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四探针电阻率测试仪的通用技术要求

发布时间2015-10-12        浏览次数:945

  四探针电阻率测试仪的通用技术要求

  四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量棒状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,片状半导体材料的电阻率和扩散层方块电阻,换上特制的四端子测试夹还可以对低、中值电阻进行测量。

  它的具体特点如下:

  具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好,测量范围广,结构紧凑,使用方便的特点,测量结果由数字直接显示。仪器探头采用宝石导向轴套,与高耐磨合金探针组成具有定位准确,游移率小,寿命长的特点。

  它的通用技术要求:

  电阻率测试仪外壳或铭牌上应有以下主要标志和符号:

  1.产品名称、型号制造厂名称或商标、出厂编号、 标志。

  2.仪器外露部件(包括外壳)有无缺陷、松动或损坏。

  3.准确度等级。

  电阻率测试仪工作正常性的检查

  1. 手动或倾斜仪器时是否可以听到内部有松动零件的撞击声。

  2.各调节盘定位与接触是否良好。

  3.数字显示是否正常。

  4.探头是否晃动,四根针是否在同一平面上和直线上,有无出厂编号、型号、生产厂家有相关技术指标。

  5. 当外观和工作正常性检查时,发现上述项目中的某一项或多项已构成影响该仪器的计量性能时,则应在修复后进行检定。